制冷对成像式亮度计测试结果的影响研究

在成像式亮度测试装置(ILMD)中,一般倾向性认为,对使用成像器件(CCD)进行致冷对亮度测试结果有非常重要的影响。然而这种泛泛的说法,并不正确。只有在非常特殊的情况下,对CCD的致冷与否,对亮度测量的不确定度(uncertainty)有明显的影响。通常情况下,可以通过核实的测量算法补偿非制冷造成一些缺点。

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