在成像式亮度測試裝置（ILMD）中，一般傾向性認為，對使用成像器件（CCD）進行致冷對亮度測試結果有非常重要的影響。然而這種泛泛的說法，并不正確。只有在非常特殊的情況下，對CCD的致冷與否，對亮度測量的不確定度(uncertainty)有明顯的影響。通常情況下，可以通過核實的測量算法補償非制冷造成一些缺點。