制冷對成像式亮度計測試結果的影響研究

摘要/Abstract

在成像式亮度測試裝置(ILMD)中,一般傾向性認為,對使用成像器件(CCD)進行致冷對亮度測試結果有非常重要的影響。然而這種泛泛的說法,并不正確。

根據相機的物理特性,建立物理模型,通過模型進行分析。對Sony公司的逐行掃描CCD ICX285AL 分別采用制冷和非制冷兩種方式進行比對測試。根據不同的信號水平和溫度條件,對不同參數對亮度測試的影響以及相關的不確定度進行了分析。

​結論表明,只有在非常特殊的情況下,對CCD的致冷與否,對亮度測量的不確定度(uncertainty)有明顯的影響。通常情況下,可以通過核實的測量算法補償非制冷造成一些缺點。

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