测试原理 |
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测试原理 |
KMP 通过光学成像系统大大缩短测试所需的距离,实现间接的 LID 测试。该光学成像系统可以直接将光的空间分布特性成像在焦平面上。光源发出的同一方向的平行光被成像在同一个位置。所以同样角度的光线将被成像在固定的位置,在焦平面内,每一个位置对应一个角度。整个成像系统的尺寸由经过透镜被成像到焦平面的光线束决定。 如果焦平面结合具体的空间解析度,再对空间信息和光度学与光源之间的关系,根据球面坐标进行校正,就可以根据亮度图像计算光强分布。在该系统中,同时需要对反射屏、杂散光等进行严格设计。 对于需要10m测试距离的前灯,KMP 的图像处理方法,测试距离可以减为 40cm。根据测试光源的类型,以及光学成像系统的情况,测试距离还可以更短。所需的测试空间非常小,满足生产线测试的需要。通常箱体空间尺寸为 95 cm x 50 cm x 43cm |
参考客户 |
Hella 车灯 |
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