| 測試原理 |
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| 測試原理 |
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KMP 通過光學成像系統大大縮短測試所需的距離，實現間接的 LID 測試。該光學成像系統可以直接將光的空間分布特性成像在焦平面上。光源發出的同一方向的平行光被成像在同一個位置。所以同樣角度的光線將被成像在固定的位置，在焦平面內，每一個位置對應一個角度。整個成像系統的尺寸由經過透鏡被成像到焦平面的光線束決定。 如果焦平面結合具體的空間解析度，再對空間信息和光度學與光源之間的關系,根據球面坐標進行校正，就可以根據亮度圖像計算光強分布。在該系統中，同時需要對反射屏、雜散光等進行嚴格設計。 對于需要10m測試距離的前燈，KMP 的圖像處理方法，測試距離可以減為 40cm。根據測試光源的類型，以及光學成像系統的情況，測試距離還可以更短。所需的測試空間非常小，滿足生產線測試的需要。通常箱體空間尺寸為 95 cm x 50 cm x 43cm |
| 參考客戶 |
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Hella 車燈 |
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