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OMI / Optino 通用型波前分析儀
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OMI / Optino
不僅僅是一個波前探測系統，
更是一個完整光學綜合測試系統
不僅可以用于實驗室光學測試，
也可以適用于生產環境條件 |
OMI: 相機+微透鏡陣列+ 專業分析軟件
Optino: OMI + 雙光路測試附件，內置光源（可選自動準直功能）
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可測試的光學元件和系統
- 透鏡、非球面透鏡
- 相機、手機攝像等鏡頭測試
- 棱鏡、球面、非球面、平面鏡
- 各種濾光片
- 隱形眼鏡、眼科鏡片
- 復雜光學系統
- 平視顯示系統（HUD）
- 研磨板
- 晶圓（wafer)
- 激光
可測試評價的項目
- 光學失常、像差測試
- 波前或表面重建
- 光學元件透過率測試
- 平面度測試
- 楔角測試
- 復雜光學系統對準、準直
- 焦長測試
- MTF (調制傳遞函數）
- PSF (點擴散函數）
- Strehl ratio
- 激光光斑品質、光束、M2、發散角測試
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| 選型指南 |
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OMI VS. Optino
| Feature |
OMI |
Optino |
| External Illumination |
yes |
yes |
| Internal Illumination |
no |
yes |
| Alignment and collimation |
yes |
yes |
| Motorized collimation |
no |
yes |
Sampling 33x33 up to 100x100
spots (camera dependent) |
yes |
yes |
| For the laboratory |
yes |
yes |
| For the production line |
yes |
yes |
主要技術參數
| Model |
（um) |
Spots |
Total spots |
| UV |
0.193-1.064 |
70x70 |
4900 |
| Visible |
0.4-1.064 |
33x33 |
1000 |
| Visible-HR |
0.4-1.064 |
70x70 |
4900 |
| Visible-XHR |
0.4-1.064 |
100x100 |
10000 |
| NIR |
0.9-1.7 |
45x45 |
2025 |
| LWIR(CO2) |
8-14 |
24x24 |
1225 |
采樣速度
| Model |
Spots |
Acquisition
(Hz) |
Processing
(Hz) |
| UV |
70x70 |
15 |
5 |
| Visible |
33x33 |
14 |
10 |
| Visible-HR |
70x70 |
15 |
5 |
| Visible-XHR |
100x100 |
15 |
1 |
| NIR |
45x45 |
100 |
7 |
| LWIR(CO2) |
24x24 |
15 |
5 |
可選測試附件
- External calibration unit Cal25
- External Motorized calibration unit ECM25
- External calibration pinhole light source PH50
- Beam Expanders Be25 and BE60
- Mountings for optical elements
軟件功能
- 11 test configurations available for external illumination mode
- 11 test configurations available for internal illumination mode
- On-line alignment of reference and test image
- On-line collimation
- Automatic motorized collimation (Optino only)
- Automatic optimization of exposure time
- Zonal and modal wavefront reconstruction
- Spot diagram, Encircled Energy profile, MTF , PSF
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產品
