在軸On Axis 裝調測試系統

在軸(On Axis)又稱軸上,近軸,是許多光學裝配工作首要解決的問題。根據我們經驗,大部分的光學系統,只要在軸光學裝配達到要求,基本可保證90%以上的最終光學質量達到要求。

我們的軸上裝調測試系統,以我們的波前探測儀器(OMI , Optino)系列和精密光學測量儀器(Lentino, OPAL)為主要輔助測試手段,并根據實際產線和產品特性,設計測試光路,搭建系統。

對于裝配、調校的光學質量,我們通過監控透射波前畸變、像差系數、MTF等,這些都是動態、實時顯示的:

 

同時顯示調整的方向箭頭,其中箭頭表示調整方向,箭頭的長短表示調整的位移量。

在此基礎之上配套相應的夾具、裝校裝置、點膠固化裝置等,提供整套集成服務的交鑰匙工程。

請聯系我們的銷售和技術人員,討論您的實際應用,為改造您的制程提供我們的專業服務!



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